Tilldelat.

Upphandling

Focused Ion Beam, Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)

TED-nummer
456632-2026
Status
Pågående
Upphandlande myndighet
Lunds universitet
Sista anbudsdag
24 augusti 2026
Uppskattat värde
28 000 000 SEK
CPV-huvudkod
38511100Svepelektronmikroskop
Publicerad
2 juli 2026

Lunds universitet upphandlar Focused Ion Beam, Scanning Electron Microscope (FIB-SEM). Sista anbudsdag är 24 augusti 2026.

Om upphandlingen

Lund Nano Lab (LNL) at Lund University intends to purchase a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope, in this document referred to as the FIB-SEM, instrument or equipment. This document lists all the requirements the FIB-SEM must meet. The instrument is intended to be used for high-resolution imaging, materials analysis and preparing samples for TEM analysis as well as for experiments at the MAX IV synchrotron.

Relaterat

Ordlista: Vad är en avtalsspärr?

Uppgifter: TED, Upphandlingsmyndigheten och Sveriges registrerade annonsdatabaser | Bearbetning: Tilldelat (tilldelat.se) | Publicerad i TED 2 juli 2026 | Originalannons